更新时间:2026-09-29
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核心:低压等离子体改性载网表面,不做元素分析
载网亲水化(常用)碳膜铜网表面引入含氧极性基团,提高表面能;水溶液样品(蛋白、病毒、核酸、纳米颗粒)均匀铺展,减少团聚,冷冻电镜形成均匀薄冰,提升高分辨成像质量;也改善超薄切片捞片、重金属染色均匀度。
载网疏水 / 带正电改性通入乙胺等气体,碳膜变为疏水正电表面,适配油性分散样品、抗体、固定蛋白等生物样品吸附。
等离子体超净清洗清除载网表面有机污染物、碳污染,降低电镜背景噪音;SEM 样品基底清洗、粉末样品分散预处理。
二维材料 / 纳米材料制样石墨烯、MXene、纳米线等在载网上均匀分散,减少褶皱与团聚。
核心:氩离子逐层溅射固体样品,块体元素定量 + 薄膜镀层深度剖析HORIBA
钢铁、铝合金、镀锌 / 镀锡板、镍基高温合金、高纯铜、溅射靶材:快速测基体成分、镀层厚度、镀层元素分布、表面氧化层、腐蚀层深度剖析;钢厂、汽车板材质量质控。
硅片、碳化硅 SiC、氮化镓 GaN、高纯靶材:超痕量杂质检测(ppb 级);LED 多层外延膜、量子阱、金属化薄膜深度剖析,快速看元素扩散、界面污染,工艺优化。
锂电池正负极、集流体涂层、固态电解质;光伏电池薄膜、TCO 导电膜,分析薄膜组分梯度、界面元素互扩散,提升电池 / 光伏效率与稳定性。
PVD/CVD 镀层、硬质涂层、阳极氧化、电镀层;从纳米到百微米深度,逐层测元素分布,评估镀层工艺、老化、失效机理。
陶瓷、玻璃、高分子材料、地质矿物;GD-MS 可测 H/O/N/C 等轻元素,适合高纯固体材料痕量杂质分析,无需酸消解,直接测固体。
等离子刻蚀、薄膜沉积(早期非晶硅光伏薄膜制备);
材料表面活化、接枝改性,提升粘接、喷涂附着力。
电镜制样辉光放电仪:改表面润湿性、清洗,生物 / 材料电镜实验室
GD-OES / GD-MS:测元素成分、深度剖面,工厂质检、材料表征中心